11月9日下午14：30，工学院电子系在行政中心会议室213成功召开“电子系学术沙龙”第四期活动。电子系的教师及研究生共20余人参加了本次活动。

本次学术沙龙由赖李洋老师就其研究方向做了题为《芯片可测试性设计的缘起及应用》的学术报告。该报告首先介绍芯片的可测试性设计的由来及所解决的问题，然后对芯片的可测试性设计的主要研究方法及应用工具进行介绍，并列举了一些在芯片验证及故障排除过程中使用芯片测试的实例，最后阐述了芯片的故障诊断在物理失效分析及屈服学习的重要价值。